ПРОБЛЕМ ЛАЗЕРНЫХ И ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ ИН-Т (ИПЛИТ РАН)
Общая информация о компании
Почтовый индекс: 140700
Адрес организации: Московская область, Шатура г., Святоозерская, ул., 1
Телефон: (499) 135-0254 Международный отдел
Дополнительный телефон: (499) 135-5430
Факс: (499) 135-0254
Веб-сайт компании: http://www.laser.ru
Электронная почта: panch@laser.ru
Название организации: ПРОБЛЕМ ЛАЗЕРНЫХ И ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ ИН-Т (ИПЛИТ РАН)
Адрес организации: Московская область, Шатура г., Святоозерская, ул., 1
Телефон: (499) 135-0254 Международный отдел
Дополнительный телефон: (499) 135-5430
Факс: (499) 135-0254
Веб-сайт компании: http://www.laser.ru
Электронная почта: panch@laser.ru
Название организации: ПРОБЛЕМ ЛАЗЕРНЫХ И ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ ИН-Т (ИПЛИТ РАН)
Рубрики организации
Сфера деятельности предприятия: ИНСТИТУТЫ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЕ
В случае, если информации, представленной на этой странице, недостаточно - вы можете найти похожие организации, а также предлагающие сходную или аналогичную продукцию или услуги предприятия и компании в рубрике ИНСТИТУТЫ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЕ нашего справочника.
Схема проезда ПРОБЛЕМ ЛАЗЕРНЫХ И ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ ИН-Т (ИПЛИТ РАН) на карте
Краткая сводка
Информация об организации представлена в актуальной версии справочника InfoTable.ru, организация находится по адресу 140700, Московская область, Шатура г., Святоозерская, ул., 1.
Организация размещена в рубрике ИНСТИТУТЫ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЕ справочника InfoTable.ru, также вы можете найти данную организацию при помощи поиска на сайте и по списку предлагаемой продукции. Связаться с представителем компании вы можете по следующим телефонам: (499) 135-0254 Международный отдел, (499) 135-5430.
Организация размещена в рубрике ИНСТИТУТЫ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЕ справочника InfoTable.ru, также вы можете найти данную организацию при помощи поиска на сайте и по списку предлагаемой продукции. Связаться с представителем компании вы можете по следующим телефонам: (499) 135-0254 Международный отдел, (499) 135-5430.
